技術(shù)文章您當(dāng)前的位置：首頁(yè) > 技術(shù)文章 > MICROTEST LCR電橋替代美國(guó)福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋，性能和指標(biāo)更勝*
MICROTEST LCR電橋替代美國(guó)福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋，性能和指標(biāo)更勝*
日期：2013-12-18瀏覽：3557次
MICROTEST LCR電橋替代美國(guó)福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋，性能和指標(biāo)更勝*
基本度：±0.1%
顯示精度：5位
量測(cè)參數(shù)：｜Z｜、 ｜Y｜、Θ、R、X、G、B、L、C、Q、D、ESR、DCR
頻率范圍：
6373 20Hz ~ 20KHz
6374 20Hz ~ 100KHz
6375 20Hz ~ 200KHz
6376 20Hz ~ 500KHz
6377 20Hz ~ 1MHz
6378 20Hz ~ 5MHz
6379 20Hz ~ 10MHz
等效電路模式：串聯(lián)/并聯(lián)
運(yùn)算模式：值/百分比
頻率輸出度：±0.01%
輸出阻抗：100Ω
測(cè)試電平：10mV to 2V rms （1m Vrms 分辨率）
量測(cè)范圍：
｜Z｜ R X ：0.1 mΩ ~ 100MΩ
｜Y｜ G B ：10nS ~ 1000S
C：0.01pF ~ >1F
L：0.01nH - 100KH
D：0.00001 ~ 9.9999
Q：0.1 ~ 9999.9
Θ：-180° ~ +180°
DCR：0.1mΩ ~ 100MΩ
Δ%：-999.99% ~ 999.99%
量測(cè)速度
Max :30mS
Fast :60mS
Medium :120mS
Slow :500mS
LCD顯示器：320*240 dot-matrix display
偏差校正功能：Zero OPEN / SHORT避免夾具或治具上的雜亂電阻引起誤差
比較器：依主參數(shù)或次參數(shù)設(shè)定上下限
內(nèi)建式內(nèi)存, 可儲(chǔ)存64組Multi-step設(shè)定
界面：RS-232, GPIB, Handler （option）
中國(guó)臺(tái)灣益和LCR數(shù)字電橋MICROTEST6375，MICROTEST6376，MICROTEST6377替代美國(guó)福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 紅外熱像儀
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 美國(guó)BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
- ARC電池絕熱量熱儀/熱安全性能
- 德國(guó)GMC-I高美
- 百特Bettersize
聯(lián)系我們
在線客服：
版權(quán)所有：上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司 滬ICP備12024467號(hào)-2
傳真： 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
公司地址：上海市閔行區(qū)聯(lián)明路555號(hào)
上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司主營(yíng)產(chǎn)品:吉時(shí)利KEITHLEY源表,吉時(shí)利KEITHLEY高阻表,是德KEYSIGHT高阻表,DESCO靜電電阻測(cè)試儀
