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耐壓測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)
日期：2013-09-03瀏覽：2646次
耐壓測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)
（1）操作者必須戴絕緣橡皮套，腳下墊絕緣橡皮墊，以防高壓電擊造成生命危險(xiǎn)；
（2）儀器必須可靠接地；
（3）在連接被測(cè)體時(shí)，必須保證高壓輸出“0”及時(shí)“復(fù)位”狀態(tài)；
（4）測(cè)試時(shí)，儀器接地端與被測(cè)體要可靠相連，嚴(yán)禁開路；
（5）切勿將輸出地線與交流電源線短路，以免外殼帶有高壓，造成危險(xiǎn)；
（6）盡可能避免高壓輸出端與地短路，以防發(fā)生意外；
（7）測(cè)試燈、超漏燈、一旦損壞，必須立即更換，以防造成誤判；
（8）排出故障前，必須切斷電源；
（9）儀器空載調(diào)整高壓時(shí)，漏電流指示有起始電流，屬正常，不影響測(cè)試精度；
（10）儀器避免陽(yáng)光正面直射，不要在高溫潮濕多塵的環(huán)境中使用或存放；
（11）儀器使用一年后，必須按照國(guó)家技術(shù)監(jiān)督部門要求送計(jì)量部門或回廠檢定，合格后，方可繼續(xù)使用
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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