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如何提高國產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試精度？
日期：2022-09-13瀏覽：2509次
國產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀可以分為標(biāo)量（只包含幅度信息）和矢量（包含幅度和相位信息）兩種分析儀。標(biāo)量分析儀曾一度因其結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉而廣泛使用。矢量分析儀可以提供更好的誤差校正和更復(fù)雜的測量能力。隨著技術(shù)的進(jìn)步，集成度和計算效率的提高，成本的降低，使用越來越普及。
如何提高國產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試精度：
誤差來源：
1）系統(tǒng)誤差：由于測試儀表原理或測試設(shè)備引起，變化有規(guī)律；能夠被定量描述；可通過校準(zhǔn)消除。
2）隨機(jī)誤差：設(shè)備噪聲、開關(guān)重復(fù)性、連接器重復(fù)性，隨時間隨機(jī)變化；不能通過校準(zhǔn)消除。
3）飄移誤差：主要由溫度變化造成，通過定期計量消除。
關(guān)于這些誤差，一般可通過定期計量來消除；在每次測試時正確合理使用校準(zhǔn)件進(jìn)行校準(zhǔn)，也是可以提高測試精度的。
國產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量校準(zhǔn)：
既然說校準(zhǔn)，肯定是為了消除誤差。那么網(wǎng)分的誤差來自于哪些方面呢？
測量誤差主要包括：隨機(jī)誤差、系統(tǒng)誤差、漂移誤差。
系統(tǒng)誤差則包括網(wǎng)絡(luò)儀內(nèi)部測試裝置的系統(tǒng)響應(yīng)和外部測試裝置的系統(tǒng)響應(yīng)。
漂移誤差由于溫度引起的。它可以通過其它校準(zhǔn)來去除。一般在測試設(shè)備可使用溫度范圍的中值進(jìn)行使用可以將該誤差降到更低。
隨機(jī)誤差則包括測試裝置的穩(wěn)定性和儀器的穩(wěn)定性。其主要組成為設(shè)備噪聲，例如采樣噪聲，IF底噪等，切換重復(fù)性以及接口重復(fù)性。當(dāng)使用網(wǎng)分時，由于隨機(jī)性所以無法通過校準(zhǔn)去除，可以通過提升信號源功率，降低IF帶寬或者多次掃頻求平均的方法來降低噪聲誤差。
所以校準(zhǔn)主要彌補(bǔ)的是系統(tǒng)和漂移誤差。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
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- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
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- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
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