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汽車電子器件，安全裝置環境試驗解決方案/成功案例
日期：2017-04-17瀏覽：4741次
汽車電子器件，安全裝置環境試驗解決方案/成功案例
汽車是由多達幾千個電子零部件組成的復雜產品，隨著汽車產業的發展，車輛復雜程度不斷加大。而嚴苛的使用環境對汽車電子產品的可靠性提出了嚴峻課題。汽車電子零部件產品可靠性十分重要，直接決定了整車的安全及運行可靠性。
行業 | 檢測對象 | 用途 | 工藝 | 解決方案 |
汽車 |
汽車電子器件（ECU） | 檢查 | 低高溫試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） |
高溫試驗箱 | ||||
評價 | 結露通電試驗 | 結露循環試驗箱 | ||
冷熱沖擊試驗箱 | ||||
特性試驗 | 高性能高低溫（濕熱）試驗箱 | |||
與實際走行同等應力 | 大型液槽冷熱沖擊裝置 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | |||
導通評價 | 導通電阻評估系統 | |||
車載電池 | 生產 | 干燥 | 電池干燥裝置 | |
真空高溫試驗箱 | ||||
LIB用老化裝置 | ||||
檢查 | 充放電試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | ||
帶防爆功能恒溫恒濕箱 | ||||
兩箱式恒溫箱 | ||||
電池單體充放電測試系統（ABDT） | ||||
電池模塊充放電測試系統（HPBT） | ||||
保存試驗 | 高低溫(濕度）試驗室 | |||
評價 | 特性試驗 | 電池單體充放電測試系統（ABDT） | ||
兩箱式恒溫箱 | ||||
帶安全機構恒溫箱 | ||||
特性檢查裝置 | ||||
電池阻抗評估系統 | ||||
電池模塊充放電測試系統（HPBT） | ||||
恒壓恒溫箱 | ||||
冷熱沖擊試驗箱 | ||||
充放電用恒溫箱BPU | ||||
防爆高溫試驗箱 | ||||
溫度、濕度、振動三綜合試驗箱 | ||||
壓壞試驗裝置 | ||||
走行安全裝置 | 檢查 | 基板的老化 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |
高溫試驗箱 | ||||
評價 | 冷熱沖擊試驗 | 冷熱沖擊試驗箱 | ||
特性試驗 | 高性能高低溫（濕熱）試驗箱 | |||
導通評估 | 導通電阻評估系統 | |||
乘員保護裝置（氣囊） | 評估 | 冷熱沖擊試驗 | 冷熱沖擊試驗箱 | |
汽車駕駛導向系統 | 檢查 | 成品篩選 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |
高低溫(濕度）試驗室 | ||||
| 中型高低溫（濕熱）試驗箱 | |||
ETC車輛運用系統 | 檢查 | 低高溫試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |
高溫試驗箱 | ||||
評價 | 結露通電試驗 | 結露循環試驗箱 | ||
冷熱沖擊試驗箱 | ||||
特性試驗 | 高性能高低溫（濕熱）試驗箱 | |||
與實際走行同等應力 | 大型液槽冷熱沖擊裝置 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | |||
導通評價 | 導通電阻評估系統 | |||
其他的汽車關聯 （功率半導體） | 檢查 | 冷熱沖擊試驗 | 冷熱沖擊試驗箱 | |
放置高溫 | 高溫試驗箱 | |||
評價 | 絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | ||
導通評價 | 導通電阻評估系統 |
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
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