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- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
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- 艾卡IKA
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- 紅外熱像儀
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- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
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- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
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- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
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- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
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